聚焦微电子前沿 共话封装技术|江苏师范大学陆向宁院长莅临我院开展专题讲座

2026-04-27 13:51文/贾澐晞 邓蓉蓉 图/黄俊杰(浏览:10)

4月24日,由机械与电气工程学院举办的“微电子封装工艺及缺陷检测”专题讲座在华罗庚馆101顺利举行。本次讲座特邀江苏师范大学机电工程学院院长陆向宁教授主讲,他长期深耕微电子封装及可靠性、人工智能、机器视觉领域研究,主持3项国家自然科学基金项目、1项江苏省高校自然科学基金及徐州市科技成果转化项目,学术成果丰硕、工程经验丰富。讲座吸引300多名学生到场参与,现场座无虚席,交流氛围热烈。

陆向宁院长首先系统介绍了江苏师范大学机电工程学科的发展历程、学科平台、师资力量与科研特色,让在场师生对高校机电学科建设与科研方向有了全面认识。随后,他以清晰的技术脉络,系统梳理了微电子封装技术的迭代演进与产业关键应用,从早期传统双列直插式封装,逐步讲到当前行业前沿的倒装芯片、TSV硅通孔、Fan-out扇出型封装及Chiplet芯粒等先进技术。他用简洁直观的示意图与通俗易懂的讲解,清晰地展现了封装技术从最初实现机械支撑与电气连接,到逐步兼顾高效散热、精密防护、高速传输、高密度集成的全方位升级过程,深入剖析了先进封装技术在提升芯片集成度、降低功耗、缩短信号传输路径、增强产品可靠性等方面的核心价值,为师生们搭建起从基础原理到产业应用的完整认知框架。

结合自身多年科研积累与项目成果,陆向宁院长针对芯片制造全流程中的质量管控关键环节,重点介绍两大前沿检测技术:一是基于深度学习的智能缺陷检测方法,通过DRAN、FESRGAN等超分辨率重构技术,大幅提升图像清晰度,精准识别焊球裂纹、孔洞、偏移、虚焊等微小缺陷,有效解决传统检测精度不足的难题;二是主动红外热成像无损检测技术,通过实时分析芯片内部热传导特性与温度分布差异,快速判断缺陷类型与位置,充分展现AI技术、机器视觉与传统检测方法深度融合的创新优势。

整场讲座内容兼具前沿性与实用性,既有宏观的产业趋势解读,又有微观的技术细节剖析,为师生们带来一场深度学术盛宴。同学们纷纷表示,讲座不仅拓宽了专业视野,更坚定了投身科技强国建设的信念,未来将以更饱满的热情投入专业学习,为我国半导体产业高质量发展贡献青春力量。

讲座现场

(供稿单位:机械与电气工程学院)

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